--> -->

ГОСТ Р 25645.336-94
Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты

ГОСТ Р 25645.336-94

Группа Т27

     
     
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ

АППАРАТЫ КОСМИЧЕСКИЕ

Методика оценки характеристик приповерхностного
свечения на теневых участках орбиты

Spacecrafts.
Evaluation technique of the superficial
glow characteristics at the eclipse parts of the orbit



ОКСТУ 7609

Дата введения 1995-07-01

     
     
Предисловие

1 РАЗРАБОТАН И ВНЕСЕН Центральным научно-исследовательским институтом машиностроения и Всероссийским научно-исследовательским институтом стандартизации (ВНИИстандарт) Госстандарта России

2 ПРИНЯТ И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Госстандарта России от 01.11.94 N 264

3 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ

1 ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ

1 ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ


Настоящий стандарт устанавливает методику оценки индикатрисы силы излучения приповерхностного свечения космических аппаратов ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты и элементов его конструкции: плоской, сферической, цилиндрической и конической форм на высотах 100-600 км в диапазоне длин волн 0,38-1,9 мкм.

Стандарт применяется для расчета освещенности приемников наземных станций наблюдения свечением ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты на фоне ночного неба и расчета оптических помех бортовой оптической аппаратуры на теневых участках орбиты.

2 ОПРЕДЕЛЕНИЯ


В настоящем стандарте применены следующие термины и их определения:

Свечение ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты

- свечение, возникающее в ближайшей окрестности ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты в результате физических и физико-химических процессов взаимодействия набегающего потока частиц верхней атмосферы Земли с собственной внешней атмосферой ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты и его поверхностью.

Характерный размер свечения

- расстояние, на котором происходит ослабление свечения в ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты раз.

Приповерхностное свечение

- свечение в видимой области спектра 0,38-0,78 мкм с характерным размером ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты0,20 м и в ближней инфракрасной (ИК) области спектра 0,78-1,9 мкм с характерным размером ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты2,0 м.

Элемент поверхности ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты

- элементарная площадка поверхности ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты, в пределах которой угол падения ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты частиц атмосферы постоянен.

Угол падения набегающего потока частиц атмосферы

- угол ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты в плоскости ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты между осью ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - продольной осью ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты и вектором набегающего потока частиц атмосферы ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты (рисунки 2, 4, 6, 8).

Угол визирования

- угол, определяющий положение вектора визирования ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты (рисунки 2, 4, 6, 8), направленного на наблюдателя, относительно ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты и имеющий в прямоугольной системе координат (оси ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты, ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты, ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты) угловые координаты:

- ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - угол в плоскости ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты между осью ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты и проекцией вектора ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты на эту плоскость;

- ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - угол в плоскости ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты между осью ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - продольной осью ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты и вектором визирования ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты, направленного на наблюдателя.

3 ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ

3.1 Энергетическая светимость ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты элемента поверхности ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты зависит от:

- высоты орбиты ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты;

- угла падения набегающего потока частиц верхней атмосферы Земли - ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты;

- материала поверхности;

- температуры поверхности - ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты.

3.2 Распределение энергетической светимости ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты по поверхности ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты и сила излучения ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты как точечного источника излучения зависит от:

- энергетической светимости ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты элемента поверхности ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты;

- формы ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты;

- угловых координат угла визирования ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты, ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты (для силы излучения

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты).

3.3 Спектр свечения ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты в диапазоне высот 100-600 км не зависит от высоты орбиты, типа материала и температуры поверхности ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты при расстояниях наблюдения ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты.

3.4 Зависимость спектральной плотности энергетической светимости ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты элемента поверхности ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты при прямом набегании потока частиц верхней атмосферы (ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты0) от длины волны приведена на рисунке 1.

Рисунок 1 - Распределение спектральной плотности энергетической светимости элемента поверхности KA по длине волны M(e, "лямбда") (прямое падение пучка частиц, высота h=250 км, температура поверхности T(S)=273 K)

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты


Рисунок 1 - Распределение спектральной плотности энергетической светимости элемента
поверхности ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты по длине волны ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты (прямое падение пучка частиц, высота ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты250 км,
температура поверхности ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты273 К)


3.5 Детектор бортовой оптической аппаратуры может быть расположен на расстоянии более 1 м для диапазона 0,38-0,78 мкм и более 10 м - для диапазона 0,78-1,9 мкм.

4 МЕТОД ОПРЕДЕЛЕНИЯ СВЕТИМОСТИ ЭЛЕМЕНТА ПОВЕРХНОСТИ KA

4.1 Спектральную плотность энергетической светимости ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты в ваттах на квадратный метр-микрометр элемента поверхности ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты рассчитывают по формуле

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты, (1)


где ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - спектральная плотность энергетической светимости элемента поверхности ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты при прямом падении потока частиц верхней атмосферы (ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты0), Вт·мГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты·мкмГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты;

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - угол падения потока частиц верхней атмосферы.

4.2 Спектральную плотность энергетической светимости ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты в ваттах на квадратный метр-микрометр рассчитывают по формуле

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - при ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты160 км; (2)


ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - при 100ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты160 км,


где ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - коэффициент, учитывающий тип материала элемента поверхности ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты (см. приложение А);

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - параметр, рассчитываемый по формулам (3); (4) для разных диапазонов длин волн, Вт·мГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты·мкмГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты;

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - при 0,38ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты1,25 мкм; (3)


ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - при 1,25ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты1,9 мкм; (4)


ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - высота орбиты, км;

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - температура поверхности, К.

4.3 Энергетическую светимость ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты в ваттах на квадратный метр в различных областях спектра рассчитывают по формуле

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты, (5)


где ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - при ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты160 км,


где ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты Вт·мГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - при 0,38ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты0,78 мкм (видимая область);


ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты Вт·мГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - при 0,78ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты1,9 мкм (ближняя ИК-область);

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - при 100ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты160 км,

где ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты Вт·мГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - при 0,38ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты0,78 мкм (видимая область);


ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты Вт·мГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - при 0,78ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты1,9 мкм (ближняя ИК-областъ).

4.4 Светимость ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты в люменах на квадратный метр в видимом диапазоне (0,38-0,78 мкм) рассчитывают по формуле

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты, (6)


где ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты лм·мГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - при ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты160 км;


ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбитылм·мГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - при 100ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты160 км.

5 МЕТОД ОПРЕДЕЛЕНИЯ ИНДИКАТРИСЫ СИЛЫ ИЗЛУЧЕНИЯ KA РАЗЛИЧНЫХ ФОРМ

5 МЕТОД ОПРЕДЕЛЕНИЯ ИНДИКАТРИСЫ
СИЛЫ ИЗЛУЧЕНИЯ ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты РАЗЛИЧНЫХ ФОРМ

5.1 Спектральную плотность силы излучения ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты в ваттах на стерадиан-микрометр плоского элемента конструкции ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты, указанного на рисунке 2, рассчитывают по формуле

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты, (7)


где ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - площадь элемента конструкции, мГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты;

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - постоянная, равная 3,1415.

Рисунок 2 - Геометрия обтекания и наблюдения свечения плоского элемента KA

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты


ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - нормаль к поверхности ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты;

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - по разделу 2;

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - при ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты0;

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - при ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты.

Рисунок 2 - Геометрия обтекания и наблюдения свечения плоского элемента ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты


5.2 Плоский элемент конструкции является равноярким излучателем с индикатрисой силы излучения, приведенной на рисунке 3.

Рисунок 3 - Индикатриса силы излучения плоского элемента конструкции KA I(e, "лямбда") ("тета(b))

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты


ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - максимальное значение силы излучения

Рисунок 3 - Индикатриса силы излучения плоского элемента конструкции ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты


5.3 Спектральную плотность силы излучения ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты в ваттах на стерадиан-микрометр ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты сферической формы (рисунок 4) рассчитывают по формуле

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты (9)


где ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - радиус сферы, м.

Рисунок 4 - Геометрия обтекания и наблюдения свечения KA сферической формы

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты


ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - по разделу 2;

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - при ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты0; (10)


ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - при ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты. (11)


Рисунок 4 - Геометрия обтекания и наблюдения свечения ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты сферической формы


5.4 ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты сферической формы не является равноярким излучателем. Индикатриса силы излучения сферы приведена на рисунке 5.

Рисунок 5 - Индикатриса силы излучения KA сферической формы I(e, "лямбда") ("тета"(b))

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - максимальное значение силы излучения;

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - по разделу 2.


(ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты0; ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты)

Рисунок 5 - Индикатриса силы излучения ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты сферической формы ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты


5.5 Спектральную плотность силы излучения ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты в ваттах на стерадиан-микрометр боковой поверхности ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты цилиндрической формы (рисунок 6) рассчитывают по формуле

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты (12)


где ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - радиус цилиндра, м;


ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - высота цилиндра, м.

Рисунок 6 - Геометрия обтекания и наблюдения свечения KA цилиндрической формы

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты


ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - по разделу 2;


ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - при ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты0; (13)


ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - при ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты. (14)


Рисунок 6 - Геометрия обтекания и наблюдения свечения ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты цилиндрической формы


5.6 Спектральную плотность силы излучения ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты в ваттах на стерадиан-микрометр основания ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты цилиндрической формы рассчитывают по формуле

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты. (15)

5.7 Суммарную спектральную плотность силы излучения ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты в ваттах на стерадиан-микрометр ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты цилиндрической формы рассчитывают по формуле

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты. (16)


Основание цилиндра является равноярким излучателем, боковая поверхность - неравноярким излучателем. Индикатриса силы излучения ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты цилиндрической формы для случая ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты приведена на рисунке 7.

Рисунок 7 - Индикатриса силы излучения KA цилиндрической формы I(e, "лямбда") ("тета"(b))

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты


ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - максимальное значение силы излучения;

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - по разделу 2.

(ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты; ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты0; ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты; ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты)

Рисунок 7 - Индикатриса силы излучения ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты цилиндрической формы ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты


5.8 Спектральную плотность силы излучения ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты в ваттах на стерадиан-микрометр ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты конической формы (рисунок 8) рассчитывают по формуле

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты, (17)


где ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - радиус основания, м;


ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - высота конуса, м;

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты, ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - функция угла ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты, общий вид которой определяет выражение (17.1);

аргументы ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты и ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты в радианах определяются согласно выражению (17.3).

Рисунок 8 - Геометрия обтекания и наблюдения свечения KA конической формы

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты


ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - высота конуса;

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - радиус нижнего основания конуса;

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - радиус верхнего основания усеченного конуса;

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - угол полураствора конуса:

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - для конуса;

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - для усеченного конуса;

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - по разделу 2


Рисунок 8 - Геометрия обтекания и наблюдения свечения ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты конической формы



ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты (17.1)

________________

* Формула соответствует оригиналу. - Примечание изготовителя базы данных.

где ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - коэффициенты, определяемые по формулам (17.2)


ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты; (17.2)


ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты;

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты


ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты;

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты


ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты;

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты


ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты;


ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты;


ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты, ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - при ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты, ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты; (17.3)


ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты, ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - при ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты, ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты;


ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты, ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - при ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты, ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты;


ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты, ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - при ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты, ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты.


В частном случае, при продольном обтекании ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты (ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты0; ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты0)

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты


ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - при ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты.

5.9 Спектральную плотность силы излучения ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты в ваттах на стерадиан-микрометр ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты в форме усеченного конуса рассчитывают по формуле

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты, (18)


где ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - спектральная плотность силы излучения боковой поверхности усеченного конуса, Вт·срГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты·мкмГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты. Определяют по формуле (17);

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - спектральная плотность энергетической светимости элемента поверхности ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты при прямом падении потока частиц верхней атмосферы (ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты0), Вт·мГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты·мкмГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты;

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - радиус верхнего (меньшего) основания усеченного конуса,

5.10 Боковая поверхность конуса и малое основание усеченного конуса являются равнояркими излучателями. Индикатриса силы излучения ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты конической формы приведена на рисунке 9.

Рисунок 9 - Индикатриса силы излучения KA конической формы

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты


ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - максимальное значение силы излучения;

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - угол полураствора конуса;

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - по разделу 2

[Продольное обтекание: ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты0°, ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты0°, ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты0,5, ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты

Рисунок 9 - Индикатриса силы излучения ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты конической формы


5.11 При расчете силы излучения в отдельных спектральных диапазонах по формулам (7)-(18) спектральные величины ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты заменяют на интегральные ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты, которые рассчитывают по формуле (5).

5.12 При расчете силы излучения ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты сложных форм его конструкцию представляют в виде комбинации простых форм - плоскостей, сфер, цилиндров и конусов, а силы излучения отдельных элементов конструкции рассчитывают по формулам (7)-(18).

5.13 Основные источники погрешностей расчета плотности силы излучения и силы излучения в отдельных спектральных диапазонах связаны с типом материала, влиянием его на спектр свечения и погрешностями эмпирической модели свечения. Общая погрешность вычислений в пределах ±25%.

5.14 Пример применения формул (7)-(18) для оценки возможности обнаружения ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты на высотах 100-600 км наземными средствами наблюдения приведен в приложении Б.

ПРИЛОЖЕНИЕ А (справочное). Поправочный множитель K(м) для различных типов материалов внешних поверхностей KA

ПРИЛОЖЕНИЕ А
(справочное)

     
Поправочный множитель ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты для различных
типов материалов внешних поверхностей ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты

Тип материала

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты

На основе SiOГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты (стеклоткани, солнечные батареи, силикатные покрытия)

1,00

Анодированные алюминиевые сплавы

0,93

Лакокрасочные покрытия

0,88

Полиэтилен

0,75

Полиамид (Kapton)

0,60

ПРИЛОЖЕНИЕ Б (справочное). Пример оценки возможности наблюдения KA наземными средствами



ПРИЛОЖЕНИЕ Б
(справочное)

     
ПРИМЕР ОЦЕНКИ ВОЗМОЖНОСТИ НАБЛЮДЕНИЯ ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты
НАЗЕМНЫМИ СРЕДСТВАМИ


Задано. Оценить возможность наблюдения ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты цилиндрической формы с размерами ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты1,0 м, ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты5,0 м.

Ориентация ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты:

- продольная ось на Землю;

- угол набегания потока частиц ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты;

- высота круговой орбиты ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты250 км;

- материал внешней поверхности - белая стеклоткань (оптические характеристики: коэффициент поглощения солнечного излучения ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты0,25; коэффициент теплового излучения ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты0,90);

- температура ткани (на теневой части витка) - 190 К (минус 83 °С);

- географические координаты пункта наблюдения (г.Самарканд) - долгота 73,3°, широта 38,4° северной широты;

- время наблюдения (московское) на теневой части витка: 16 ч, 45 мин, 45 с - 16 ч, 49 мин, 45 с, 25.09.93 г.

Азимут, угол места, наклонная дальность объекта наблюдения и углы ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты, ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты заданы в таблице Б1 (результаты расчета по программе целеуказания).

Пороги обнаружения:

видимая область (0,38-0,78 мкм) - 1·10ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты Вт·мГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты;

ближняя ИК-область (0,78-1,9 мкм) - 1·10ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты Вт·мГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты.



Таблица Б1

Время

Азимут, град, мин, с

Угол места, град, мин, с

Наклонная дальность, км

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты,
град

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты,
град

16 ч, 45 мин, 45 с

330:15:10

11:08:21

952

342,45

109,25

16 ч, 46 мин, 15 с

335:21:56

16:16:12

752

337,28

112,53

16 ч, 46 мин, 45 с

344:30:48

23:53:24

567

328,27

118,38

16 ч, 47 мин, 15 с

3:54:15

35:05:10

419

309,02

128,06

16 ч, 47 мин, 45 с

45:05:12

43:11:47

358

267,98

135,45

16 ч, 48 мин, 15 с

85:51:07

34:50:30

422

227,35

127,84

16 ч, 48 мин, 45 с

104:55:57

23:41:59

571

208,40

118,23

16 ч, 49 мин, 15 с

113:57:03

16:08:43

756

199,52

112,44

16 ч, 49 мин, 45 с

119:00:14

11:02:59

956

194,59

109,20



Оценка возможности наблюдения ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты цилиндрической формы


Определяют энергетическую силу излучения ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты в видимой и ближней ИК-областях спектра по формулам (2), (5), (12) с учетом требований 5.11 и исходных данных.

Определяют зависимость энергетической освещенности приемника станции наблюдения ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты в Вт·мГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты в видимой и ближней ИК-областях спектра от времени наблюдения по формуле

ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты, (Б1)


где ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - сила излучения, Вт·срГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты·мГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты;


ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты - наклонная дальность, м (таблица Б1).

Результаты расчета приведены в таблице Б2.

Таблица Б2

Время

Энергетическая освещенность
(видимая область)
ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты, Вт·мГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты

Энергетическая освещенность (ИК-область)
ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты, Вт·мГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты

16 ч, 45 мин, 45 с

6,6·10ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты

1,6·10ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты

16 ч, 46 мин, 15 с

1,2·10ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты

3,0·10ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты

16 ч, 46 мин, 45 с

2,4·10ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты

5,8·10ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты

16 ч, 47 мин, 15 с

4,3·10ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты

1,1·10ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты

16 ч, 47 мин, 45 с

2,9·10ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты

7,2·10ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты

16 ч, 48 мин, 15 с

8,6·10ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты

2,2·10ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты

16 ч, 48 мин, 45 с

3,3·10ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты

7,9·10ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты

16 ч, 49 мин, 15 с

2,4·10ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты

5,8·10ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты

16 ч, 49 мин, 45 с

3,0·10ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты

7,5·10ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты



Из данных таблицы Б2 следует, что при заданных порогах обнаружения наблюдение ГОСТ Р 25645.336-94 Аппараты космические. Методика оценки характеристик приповерхностного свечения на теневых участках орбиты в видимой области возможно во временном интервале 16 ч, 46 мин, 15 с - 16 ч, 47 мин, 45 с; в ближней ИК-области - в интервале 16 ч, 45 мин, 45 с - 16 ч, 48 мин, 15 с при азимуте и углах места в соответствии с таблицей Б1.


Copyright © 2024