ГОСТ 8.274-85 - Государственная система обеспечения единства измерений. Государственный специальный эталон и государственная поверочная схема для средств измерений бикомплексной проницаемости и модуля коэффициента отражения в диапазоне частот 0,2-1,0 ГГц

ГОСТ 8.274-85

Группа T84

ОКСТУ 0008

Дата введения 1987-01-01

РАЗРАБОТАН Государственным комитетом СССР по стандартам

ИСПОЛНИТЕЛИ

Н.Л.Яцынина, канд. техн. наук (руководитель темы); Г.А.Ведюшкин, канд. техн. наук; Н.М.Карих, канд. техн. наук; Н.А.Никулина; Н.А.Щеткин

ВНЕСЕН Государственным комитетом СССР по стандартам

Член Госстандарта Л.К.Исаев

УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 17 октября 1985 г. N 118

ВЗАМЕН ГОСТ 8.274-78

Настоящий стандарт распространяется на государственный специальный эталон и государственную поверочную схему для средств измерений бикомплексной проницаемости и модуля коэффициента отражения в диапазоне частот 0,21,0 ГГц и устанавливает назначение государственного специального эталона единиц бикомплексной проницаемости - относительных единиц в диапазоне частот 0,21,0 ГГц, комплекс основных средств измерений, входящих в его состав, основные метрологические характеристики эталона и порядок передачи размера единиц бикомплексной проницаемости от государственного специального эталона при помощи вторичных эталонов и образцовых средств измерений бикомплексной проницаемости и модуля коэффициента отражения рабочим средствам измерений с указанием погрешностей и основных методов поверки.

1. ЭТАЛОНЫ

1.1. Государственный специальный эталон

1.1.1. Государственный специальный эталон предназначен для воспроизведения и хранения единиц бикомплексной проницаемости в диапазоне частот 0,21,0 ГГц и передачи размера единиц при помощи вторичных эталонов и образцовых средств измерений рабочим средствам измерений, применяемым в народном хозяйстве с целью обеспечения единства измерений в стране.

1.1.2. В основу измерений бикомплексной проницаемости и модуля коэффициента отражения в диапазоне частот 0,21,0 ГГц должны быть положены единицы, воспроизводимые указанным эталоном.

1.1.3. Государственный специальный эталон состоит из комплекса следующих средств измерений:

комплект эталонных двухполюсников;

комплект эталонных четырехполюсников;

компаратор для воспроизведения единиц бикомплексной проницаемости и передачи их размеров вторичным эталонам и образцовым средствам измерений 1-го разряда.

1.1.4. Диапазон значений относительных единиц бикомплексной проницаемости, воспроизводимых эталоном, составляет 110 для действительных частей (диэлектрической и магнитной ), 1·101 для мнимых частей (диэлектрической и магнитной )

1.1.5. Государственный специальный эталон обеспечивает воспроизведение единиц со средним квадратическим отклонением результата измерений , не превышающим 1·10 для действительных частей, 2·101·10 - для мнимых частей при десяти независимых наблюдениях. Неисключенная систематическая погрешность не превышает 2·10 для действительных частей, 5·102·10 - для мнимых частей.

Нестабильность эталона за год составляет 0,7·10 для действительных частей и 0,010,05 для мнимых частей бикомплексной проницае

мости.

1.1.6. Для обеспечения воспроизведения единиц бикомплексной проницаемости с указанной точностью должны быть соблюдены правила хранения и применения эталона, утвержденные в установленном порядке.

1.1.7. Государственный специальный эталон применяют для передачи размера единиц бикомплексной проницаемости вторичным эталонам и образцовым средствам измерений 1-го разряда непосредственным сличением, методом прямых измерений и методом косвенных измерений.

1.2. Вторичные эталоны

1.2.1. В качестве эталона сравнения единиц бикомплексной проницаемости применяют комплект эталонных четырехполюсников в диапазоне измерений 110 для относительных диэлектрической и магнитной проницаемостей и 1·101 для тангенсов углов потерь ().

1.2.2 Средние квадратические отклонения результатов сличения эталона сравнения с государственным не должны превышать: - 3·10 для диэлектрической и магнитной проницаемостей и - от 5·10 до 3·10 для тангенса угла потерь.

1.2.3. Эталон сравнения применяют для международных сличений.

1.2.4. В качестве рабочих эталонов единиц комплексных диэлектрической и магнитной проницаемостей применяют:

рабочий эталон единиц комплексной диэлектрической проницаемости диэлектриков малых объемов толщиной не более 2 мм в диапазоне частот 0,21,0 ГГц и в диапазоне измеряемых величин 110 для диэлектрической проницаемости и 1·10*1·10 для тангенса угла диэлектрических потерь, содержащий комплект эталонных образцов и компаратор для передачи размера единиц от рабочего эталона образцовым средствам измерений 1-го разряда;
_______________
* Соответствует оригиналу. - Примечание.

рабочие эталоны единиц бикомплексной проницаемости в диапазонах частот 0,21,0 ГГц и 17 ГГц и в диапазоне измеряемых величин 110 для диэлектрической и магнитной проницаемостей и 1·101 для тангенсов углов потерь, содержащий комплект эталонных четырехполюсников, компаратор для передачи размера единиц бикомплексной проницаемости образцовым средствам измерений 2-го разряда;

рабочий эталон комплексной диэлектрической проницаемости в диапазоне частот 0,53,0 ГГц и в диапазоне измерений 101000 для диэлектрической проницаемости и 5·101 для тангенса угла диэлектрических потерь, содержащий эталонный образец и компаратор для передачи размера единиц комплексной диэлектрической проницаемости образцовым средствам измерений 1-го разряда;

рабочий эталон единицы модуля коэффициента отражения в диапазоне частот 13 ГГц и в диапазоне измерений 1·103,5·10 () модуля коэффициента отражения по напряженности электрического поля, полученного расчетным путем от воспроизведенной государственным специальным эталоном единицы диэлектрической проницаемости, содержащий комплект эталонных образцов и компаратор для передачи размера единицы модуля коэффициента отражения образцовым средствам измерений

2-го разряда.

1.2.5. Средние квадратические отклонения результатов сличений рабочих эталонов с государственным составляют:

от 1·10 до 1·10 по диэлектрической проницаемости и от 4·10 до 2·10 по тангенсу угла диэлектрических потерь для рабочего эталона комплексной диэлектрической проницаемости диэлектриков малых объемов;

от 1·10 до 5·10 по диэлектрической и магнитной проницаемостям и от 5·10 до 15·10 по тангенсу угла потерь для рабочих эталонов единиц бикомплексной проницаемости;

от 5·10 до 1·10 по диэлектрической проницаемости и от 3·10 до 7·10 по тангенсу угла диэлектрических потерь для рабочего эталона единиц комплексной диэлектрической проницаемости;

от 3·10 до 1·10 для модуля коэффициента отражения для рабочего эталона единицы модуля коэффиц

иента отражения.

1.2.6. Рабочие эталоны применяют для передачи размера единиц образцовым сpeдcтвaм измерений 1 и 2-го разрядов методом прямых измерений.

2. ОБРАЗЦОВЫЕ СРЕДСТВА ИЗМЕРЕНИЙ

2.1. Образцовые средства измерений 1-го разряда

2.1.1. В качестве образцовых средств измерений 1-го разряда применяют:

образцовую установку для измерений параметров диэлектриков малых объемов в диапазоне частот 0,21,0 ГГц и в диапазоне измерений 120 для диэлектрической проницаемости и 1·101·10 для тангенса угла диэлектрических потерь;

стандартные образцы диэлектрической проницаемости в диапазоне измерений 110 для диэлектрической проницаемости;

образцовую установку для измерений комплексной диэлектрической проницаемости в диапазоне частот 0,53,0 ГГц при температурах от минус 50 до плюс 200 °С и управляющих напряжениях от 0 до 1000 В в интервалах измерений 101000 для диэлектрической проницаемости, 5·101 для тангенса угла диэлектрических пот

ерь.

2.1.2. Доверительные относительные погрешности образцовых средств измерений 1-го разряда при доверительной вероятности 0,95 составляют:

от 0,5 до 2,0% по диэлектрической проницаемости и от 7 до 30% по тангенсу угла диэлектрических потерь образцовой установки для измерений параметров диэлектриков малых объемов.

0,3% по диэлектрической проницаемости для стандартных образцов диэлектрической проницаемости;

2% по диэлектрической проницаемости и 10% по тангенсу угла диэлектрических потерь образцовой установки для измерения комплексной диэлектрической проницаемости.

2.1.3. Образцовые средства измерений 1-го разряда применяют для передачи размера единиц стандартным образцам 2-го разряда и рабочим средствам измерений методом прямых измерений и сличением при помощи компаратора.

2.2. Образцовые средства измерений 2-го разряда

2.2.1. В качестве образцовых средств измерений 2-го разряда применяют:

стандартные образцы комплексной диэлектрической проницаемости диэлектриков малых объемов в диапазоне частот 0,21,0 ГГц и в диапазоне измерений 120 для диэлектрической проницаемости и 1·101·10 для тангенса угла диэлектрических потерь;

стандартные образцы бикомплексной проницаемости в диапазоне частот 0,21,0 ГГц и 17 ГГц и в диапазоне измерений 120 для диэлектрической и магнитной проницаемостей и 1·101·10 для тангенсов углов потерь;

стандартные образцы диэлектрической проницаемости в диапазоне частот 0,21,0 ГГц и в диапазоне измерений 110 для диэлектрической проницаемости;

стандартные образцы комплексной диэлектрической проницаемости в диапазоне частот 0,53,0 ГГц в диапазоне измерений 104000 для диэлектрической проницаемости и 5·101 для тангенса угла диэлектрических потерь;

стандартные образцы температурно-реверсивной комплексной диэлектрической проницаемости в диапазоне измерений 2002000 для диэлектрической проницаемости и 5·101 для тангенса угла диэлектрических потерь;

стандартные образцы модуля коэффициента отражения в диапазоне частот 13 ГГц с интервалом измерений 1,0·103,5·10 для модуля коэффициента отражения по напряженности эл

ектрического поля.

2.2.2. Доверительные относительные погрешности образцовых средств измерений 2-го разряда при доверительной вероятности 0,95 составляют:

от 1 до 3% по диэлектрической проницаемости и от 10 до 60% по тангенсу угла диэлектрических потерь для стандартных образцов комплексной диэлектрической проницаемости диэлектриков малых объемов;

от 0,3 до 1,0% по диэлектрической и магнитной проницаемостям и от 10 до 30% по тангенсам углов потерь для стандартных образцов бикомплексной проницаемости;

1% по диэлектрической проницаемости для стандартных образцов диэлектрической проницаемости;

от 3 до 6% по диэлектрической проницаемости и 12% по тангенсу угла диэлектрических потерь для стандартных образцов комплексной диэлектрической проницаемости;

от 4 до 6% по диэлектрической проницаемости и 15% по тангенсу угла диэлектрических потерь для стандартных образцов температурно-реверсивной комплексной диэлектрической проницаемости;

от 10 до 20% по модулю коэффициента отражения для стандартных образцов модуля коэффициента отраже

ния.

2.2.3. Образцовые средства измерений 2-го разряда предназначены для поверки рабочих средств измерений методом прямых измерений.

3. РАБОЧИЕ СРЕДСТВА ИЗМЕРЕНИЙ

3.1. В качестве рабочих средств измерений применяют измерители параметров диэлектрических материалов, измерители параметров диэлектрических пленок, измерители добротности с приставками, измерители параметров материалов, измерительные линии с ячейками для измерений параметров материалов, измерители полных сопротивлений с ячейками для измерений параметров материалов, измерители комплексных коэффициентов передачи с ячейкой для измерений параметров материалов, панорамные измерители коэффициента стоячей волны с ячейкой для измерений параметров материалов, измерители параметров высоких значений комплексной диэлектрической проницаемости, полосковые компенсационные измерители, рупорные измерители.

3.2. Относительные доверительные погрешности рабочих средств измерений при доверительной вероятности 0,95 составляют от 3 до 15% для диэлектрической проницаемости, от 5 до 15% для магнитной проницаемости, ()% для тангенсов углов потерь и 2040% для модуля коэффициента отражения по напряженности электрического поля.

Государственная поверочная схема для средств измерений бикомплексной проницаемости и модуля коэффициента отражения в диапазоне частот 0,2-1,0 ГГц

ГОСТ 8.274-85 ГСИ. Государственный специальный эталон и государственная поверочная схема для средств измерений бикомплексной проницаемости и модуля коэффициента отражения в диапазоне частот 0,2-1,0 ГГц

; ; ; ; ; ; ; - погрешности метода передачи размера единиц