--> -->

ГОСТ 18986.23-80
Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума

ГОСТ 18986.23-80

Группа Э29

     
     
МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

СТАБИЛИТРОНЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ

Методы измерения спектральной плотности шума

Zener diodes. Methods for measuring spectral noise density



Дата введения 1982-01-01

Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 12.12.80 N 5804 дата введения установлена 01.01.82

Ограничение срока действия снято Постановлением Госстандарта от 30.08.91 N 1410

ИЗДАНИЕ (август 2002 г.) с Изменением N 1, утвержденным в сентябре 1986 г. (ИУС 12-86).


Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает два метода измерения спектральной плотности шума ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1):

- метод 1 применяют при измерении спектральной плотности шума стабилитронов с установленной полосой частот измерения в диапазоне 5 Гц - 30 МГц;

- метод 2 применяют при измерении спектральной плотности шума прецизионных стабилитронов с установленной полосой частот измерения в диапазоне 0,01-5 Гц.

Общие требования при измерениях должны соответствовать ГОСТ 18986.0-74 и требованиям, изложенным в соответствующих разделах настоящего стандарта.

1. МЕТОД 1

1. МЕТОД 1

1.1. Принцип и условия измерения

1.1.1. Спектральную плотность шума определяют по результатам измерения среднеквадратического значения напряжения шума стабилитрона в установленной полосе частот.

1.1.2. Измерения проводят на одной частоте при выполнении условия полосности фильтра

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1), (1)


где ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - верхняя граничная частота полосы пропускания вольтметра ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) на уровне 0,7, Гц;

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - нижняя граничная частота полосы пропускания вольтметра ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) на уровне 0,7, Гц.

Если не выполняется условие 1, то измерение проводят в полосе частот.

1.1.3. Условие измерения (температура) и электрический режим измерения (ток стабилизации и полоса частот) должны соответствовать установленным в стандартах или технических условиях на стабилитроны конкретных типов.

1.2. Аппаратура

1.2.1. Для измерения следует применять установку, электрическая структурная схема которой приведена на черт.1.

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1)


ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - генератор постоянного тока; ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - измеряемый стабилитрон; ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - вольтметр для измерения среднеквадратического значения напряжения

Черт.1


Электрические параметры вольтметров для измерения среднеквадратического значения напряжения приведены в приложении 3.

(Измененная редакция, Изм. N 1).

1.2.2. Генератор постоянного тока ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) должен обеспечивать установление тока с погрешностью в пределах ±5%.

1.2.3. Реактивная составляющая полного входного сопротивления измерительной установки может быть компенсирована резонансным контуром.

1.2.4. Спектральная плотность напряжения собственных шумов и электромагнитных помех измерительной установки не должна превышать значения измеряемой спектральной плотности шума стабилитрона.

1.2.5. Для измерения собственных шумов установки стабилитрон заменяют цепью, состоящей из параллельно включенных резистора ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) и конденсатора ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1).

Сопротивление резистора ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) должно соответствовать соотношению

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1), (2)


где ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - дифференциальное сопротивление стабилитрона в режиме измерения спектральной плотности шума, установленное в стандартах или технических условиях на стабилитроны конкретных типов, Ом.

Емкость конденсатора ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) должна соответствовать условию

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1), (3)


где ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - общая емкость стабилитрона, установленная в стандартах или технических условиях на стабилитроны конкретных типов, Ф.

Конденсатор ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) не устанавливают при выполнении условия

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1), (4)


где ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - частота измерения, Гц (ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) при измерении в полосе частот).

(Измененная редакция, Изм. N 1).

1.2.6. Спад амплитудно-частотной характеристики вольтметра среднеквадратического значения ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) должен быть не менее 12 дБ/окт.

1.3. Подготовка и проведение измерений

1.3.1. Измеряемый стабилитрон заменяют цепью, состоящей из параллельно включенных резистора ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) и конденсатора ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1), параметры которых приведены в п.1.2.5.

1.3.2. Генератором постоянного тока устанавливают ток, равный номинальному току стабилизации.

1.3.3. Измеряют напряжение собственных шумов и электромагнитных помех измерительной установки ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) по истечении времени 4ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1), где ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - постоянная времени вольтметра среднеквадратического значения.

1.3.4. Цепь, состоящую из резистора ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) и конденсатора ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1), заменяют стабилитроном.

1.3.5. Стабилитрон выдерживают в течение времени, указанного в стандартах или технических условиях на стабилитроны конкретных типов, но не менее чем 4ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1).

1.3.6. Измеряют напряжение шумов стабилитрона ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1).

1.4. Обработка результатов

1.4.1. Спектральную плотность напряжения шумов стабилитрона ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) определяют по формуле

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1), (5)

а при выполнении условия

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) (6)

по формуле

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1), (7)


где ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - ширина эффективной полосы шума измерительной установки, Гц;

при выполнении условия

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1). (8)

Метод определения ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) приведен в приложении 1.

1.5. Показатели точности измерения

1.5.1. Общая погрешность измерения спектральной плотности шума должна находиться в пределах ±20% с доверительной вероятностью ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1)0,95.

1.5.2. Общую погрешность измерения спектральной плотности шума определяют по формуле

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1), (9)


где ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - погрешность, учитывающая погрешность измерения вольтметра среднеквадратического значения, %.

При определении спектральной плотности шума по формуле (5)

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1), (10)


где ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - погрешность измерения вольтметра среднеквадратического значения ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1), %.

При определении спектральной плотности шума по формуле (7)

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1); (11)

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - погрешность определения ширины эффективной полосы шума измерительной установки, %, определяется по методике, изложенной в приложении 1;

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - погрешность, учитывающая длительность времени измерения, %.

При выполнении условия (6)

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1). (12)

При выполнении условия (8)

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1); (13)

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - погрешность неточности задания тока стабилизации, %.

Для стабилитронов конкретного типа погрешность определяют с использованием зависимости ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1), которая должна указываться в стандартах или технических условиях на стабилитроны конкретных типов, при отсутствии этой зависимости неточность задания тока должна быть в пределах ±1% ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1);

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - погрешность влияния входного сопротивления измерительной установки, %, определяемая по формулам:

при выполнении условия

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1), (14)


ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1), (15)


где ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - входное сопротивление измерительной установки, Ом;

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - входная емкость измерительной установки, Ф.

Если условие (14) не выполняется, то

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1), (16)


где

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1); (17)

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - частота измерения, Гц (ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) при измерении в полосе частот);

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - погрешность влияния собственных шумов и электромагнитных наводок измерительной установки, %.

При определении спектральной плотности шума по формуле (5)

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1)0; (18)

при определении спектральной плотности шума по формуле (7)

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1); (19)

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - погрешность, учитывающая коэффициент амплитуды вольтметра ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1), %.

Значение погрешности ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) приведено на черт.2.

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1)


Черт.2

2. МЕТОД 2

2.1. Принцип и условия измерения

2.1.1. Спектральную плотность шума определяют по результатам измерения мгновенных значений напряжения шума в установленной полосе частот и вычисления среднеквадратического значения.

2.1.2. Условия и режим измерения - по п.1.1.3.

2.2. Аппаратура

2.2.1. Измерение следует проводить на установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт.3.

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1)


ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - генератор постоянного тока; ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - измеряемый стабилитрон; ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - термостат; ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - измеритель напряжения; ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - регистрирующее устройство

Черт.3

(Измененная редакция, Изм. N 1).

2.2.2. Генератор постоянного тока ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) должен обеспечивать ток с погрешностью в пределах ±1%.

2.2.3. Полоса пропускания вольтметра ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) на уровне 0,7 должна находиться в диапазоне частот измерения от ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) до ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) (ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) и ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) указывают в стандартах или технических условиях на стабилитроны конкретных типов).

2.2.4. Спад амплитудно-частотной характеристики вольтметра за пределами полосы пропускания должен быть не менее 12 дБ/окт.

2.2.5. Интервалы времени между двумя последовательными измерениями мгновенных значений должны быть не более 1/6ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1).

2.2.6. Термостат должен обеспечивать поддержание температуры с погрешностью в пределах ±0,2 °С.

2.3. Подготовка и проведение измерения

2.3.1. Генератором постоянного тока ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) устанавливают ток стабилизации ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1).

2.3.2. Стабилитрон выдерживают под током в термостатируемом объеме в течение времени, указанного в стандартах или технических условиях на стабилитроны конкретных типов.

2.3.3. Измерителем напряжения ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) измеряют напряжение шума стабилитрона ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1):

- при измерении на частоте - в течение времени, равного или более 4ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1);

- при измерении в полосе частот - в течение времени ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1).

Метод определения времени ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) приведен в приложении 2.

2.4. Обработка результатов

Спектральную плотность шума ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) вычисляют по формуле

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1), (20)


где ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - мгновенное значение напряжения стабилизации (при измерении вольтметром постоянного тока);

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - число измерений в серии.

2.4.1. Размах напряжения шума определяют по формуле

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1), (21)


где ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - максимальное значение напряжения стабилизации за время измерения в указанном диапазоне частот, В;

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - минимальное значение напряжения стабилизации за время измерения в указанном диапазоне частот, В.

2.5. Показатели точности измерения

2.5.1. Общая погрешность измерения спектральной плотности шума в инфранизкочастотной области должна находиться в пределах ±30% с доверительной вероятностью ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1)0,95.

2.5.2. Общую погрешность измерения спектральной плотности напряжения шума в инфранизкочастотной области определяют по формуле

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1), (22)


где ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - погрешность измерения вольтметра ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1), %;

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - погрешность изменения температуры в термостатируемом объеме, вычисляемая в процентах по формуле

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1), (23)


где ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - погрешность поддержания температуры в термостатируемом объеме ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1), °С;

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - номинальное значение напряжения стабилизации измеряемого стабилитрона, В;

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - значение температурного коэффициента напряжения стабилизации, указанное в стандартах или технических условиях на стабилитроны конкретных типов, %/°С;

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - погрешность определения ширины эффективной полосы шума измерительной установки, %, определяемой по методу, изложенному в приложении 1;

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - погрешность длительности времени измерения, %, определяют по методу, указанному в приложении 2;

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - погрешность входного сопротивления измерителя ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1), вычисляемая в процентах по формуле

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1), (24)


где ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - входное сопротивление измерителя напряжения ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1), Ом;

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - входное сопротивление генератора ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1), Ом;

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - погрешность влияния собственных шумов и электромагнитных помех измерительной установки, %.

Погрешность ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) определяют при замене стабилитрона в измерительной установке проволочным резистором с сопротивлением ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) и измерением собственных шумов и электромагнитных помех измерительной установки;

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - относительная погрешность влияния коэффициента амплитуды вольтметра ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1), %.

Значения относительной погрешности ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) приведены на черт.2, при ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1)5; ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1)0.

2.5.3. Погрешность измерения размаха напряжения шума ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) должна находиться в пределах ±30% с доверительной вероятностью ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1)0,95.

2.5.4. Общую относительную погрешность измерения размаха напряжения шума определяют по формуле

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1).

ПРИЛОЖЕНИЕ 1 (справочное). МЕТОДЫ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ШИРИНЫ ЭФФЕКТИВНОЙ ПОЛОСЫ ШУМА ИЗМЕРИТЕЛЬНОЙ УСТАНОВКИ


ПРИЛОЖЕНИЕ 1
Справочное

1. Метод определения ширины эффективной полосы шума при помощи генератора гармонического сигнала

1.1. Измерения проводят на установке, структурная схема которой представлена на черт.1 настоящего приложения.

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1)


ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - генератор напряжения гармонического сигнала; ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - частотомер; ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - резистор; ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - конденсатор; ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - установка для измерения спектральной плотности напряжения шума

Черт.1


1.2. Значение сопротивления резистора ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) должно быть в пределах ±20% значения ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1).

1.3. Значение емкости конденсатора ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) должно быть в пределах ±20% значения ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1).

1.4. Проведение измерения

1.4.1. Генератором напряжения гармонического сигнала ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) на вход установки подают напряжение, не менее чем в 100 раз превышающее напряжение собственных шумов и электромагнитных помех измерительной установки.

1.4.2. Изменяя частоту напряжения генератора ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) в полосе пропускания измерительной установки, проводят измерение зависимости

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1),

где ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - показание измерительного прибора установки;

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - частота генератора.

1.5. Обработка результатов

1.5.1. Методом численного интегрирования вычисляют интеграл

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1). (1)

1.5.2. Определяют ширину эффективной полосы шума измерительной установки по формуле

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1). (2)

1.6. Общую погрешность определения ширины эффективной полосы шума измерительной установки определяют по формуле

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1), (3)*

_______________
* Формула соответствует оригиналу. - Примечание изготовителя базы данных.

где ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - погрешность задания напряжения генератором напряжения гармонического сигнала ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1), %;

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - относительная погрешность измерения частоты частотометром ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1), %;

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1)- погрешность измерителя ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) измерительной установки, %;

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - погрешность численного интегрирования, %;

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - погрешность неточности задания и поддержания центральной частоты при измерении на одной частоте, %, вычисляют по формуле

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1), (4)


где ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - погрешность задания и поддержания частоты при измерении на одной частоте, %;

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1)0 - при измерении в полосе частот.

(Измененная редакция, Изм. N 1).

2. Метод определения ширины эффективной полосы шума измерительной установки при помощи генератора шума

2.1. Измерения проводят на установке, структурная электрическая схема которой приведена на черт.2 настоящего приложения.

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1)


ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - генератор шума; ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - измерительная установка

Черт.2

2.2. Значение выходного сопротивления генератора шума должно быть одного порядка со значением дифференциального сопротивления измеряемого стабилитрона.

2.3. Генератором шума ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) на вход установки подают шум со спектральной плотностью ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1), превышающей не менее чем в 100 раз значение спектральной плотности собственного шума и электромагнитных помех измерительной установки.

2.4. Измерительным прибором установки измеряют среднеквадратическое значение напряжения шума ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1).

2.5. Определяют ширину эффективной полосы шума по формуле

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1). (5)

2.6. Общую относительную погрешность определения ширины эффективной полосы шума определяют по формуле

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1), (6)


где ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - погрешность задания спектральной плотности генератором шума ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1), %;

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - погрешность измерения напряжения шума измерительной установки;

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - погрешность влияния входного сопротивления измерительной установки, %, определяется по формуле

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1), (7)


где ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - выходное сопротивление генератора шума ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1), Ом.

ПРИЛОЖЕНИЕ 2 (обязательное). МЕТОД ОПРЕДЕЛЕНИЯ ВРЕМЕНИ ИЗМЕРЕНИЯ И ПОГРЕШНОСТИ, ВЫЗВАННОЙ ДЛИТЕЛЬНОСТЬЮ ВРЕМЕНИ ИЗМЕРЕНИЯ

ПРИЛОЖЕНИЕ 2
Обязательное

     
МЕТОД ОПРЕДЕЛЕНИЯ ВРЕМЕНИ ИЗМЕРЕНИЯ ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) И ПОГРЕШНОСТИ ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1), ВЫЗВАННОЙ ДЛИТЕЛЬНОСТЬЮ ВРЕМЕНИ ИЗМЕРЕНИЯ

1. Провести число измерений ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) спектральной плотности шума стабилитрона ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1), каждое в течение времени ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1).

Число измерений ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) должно быть достаточным для получения надежных оценок математического ожидания и дисперсии.

2. Определить оценки для математического ожидания ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) и дисперсии ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1)(ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1)) проведенной серии измерений по формулам:


ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1); (1)


ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1). (2)

3. Задать значение ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1).

4. Вычислить значение ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) по формуле

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1), (3)


где ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - квантиль распределения Стьюдента;

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) - искомое число измерений.

5. Для односторонней доверительной вероятности ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1)0,975 по полученному значению ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) определить требуемое число измерений ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1).

6. Время измерения ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) при заданном значении ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) равно

ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1). (4)

7. Если полученное значение ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) велико, то следует задаться новым значением ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) и повторить вычисления по пп.4-6.

8. Полученные значения ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) и ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) записывают в стандарты или технические условия на стабилитроны конкретных типов.

ПРИЛОЖЕНИЕ 3 (справочное). СПРАВОЧНАЯ ТАБЛИЦА ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ВОЛЬТМЕТРОВ СРЕДНЕКВАДРАТИЧЕСКОГО НАПРЯЖЕНИЯ; СПРАВОЧНАЯ ТАБЛИЦА ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ СЕЛЕКТИВНЫХ ВОЛЬТМЕТРОВ; СПРАВОЧНАЯ ТАБЛИЦАЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ГЕНЕРАТОРОВ ШУМА

ПРИЛОЖЕНИЕ 3
Справочное



Таблица 1


Справочная таблица электрических параметров вольтметров среднеквадратического напряжения

Тип

Предел измерения

Диапазон частот

Погрешность, %

Коэффициент амплитуды

Входное сопротивление, МОм

Входная емкость, пФ

В3-40

10 мкВ - 300 В

5 Гц - 5 МГц

1,5-4,0
(45 Гц - 1 МГц);
15
(5 Гц - 45 Гц
1 МГц - 5 МГц)

-

2,5

30

В3-41

300 мкВ - 300 В

20 Гц - 10 МГц

2-4
(45 Гц - 1 МГц);
20
(20 Гц - 45 Гц
1 МГц - 10 МГц)

-

4

15-35

В3-42

30 мкВ - 300 В

10 Гц - 5 МГц

2,5-10,0
(45 Гц - 1 МГц);
15
(10 Гц - 45 Гц
1 МГц - 5 МГц)

5

2,5-5

15

В3-48

300 мкВ - 300 В

10 Гц - 50 МГц

2,5
(45 Гц - 10 МГц)

20

8

В3-50

10 мкВ - 300 В

5 Гц - 5 МГц

1,5-4,0
(45 Гц - 1 МГц);
2,5-15
(5 Гц - 5 МГц)

6

2,5

30

В3-52/1

1 мВ - 300 В

10 Гц - 1000 МГц

2-4
(100 кГц - 10 МГц)

0,03
(100 МГц)

10

В3-55

0,1 мВ - 300 В

20 Гц - 1 МГц

2,5-4,0

4

1

30



Таблица 2


Справочная таблица электрических параметров селективных вольтметров

Тип

Предел измерения

Диапазон частот

Погрешность, %

Диапазон напряжений

Полоса пропускания, кГц

Входное сопротивление, МОм

Входная емкость, пФ

В6-9

1 мкВ - 1 В

20 Гц - 200 кГц

±15

1-3 мкВ

-

1

70


±10

3-10 мкВ


±6

10 мкВ - 1 В

В6-10

1 мкВ - 1 В

100 кГц - 30 МГц

±15

1-3 мкВ

1; 9

2

10


±10

10 мкВ - 1 В



Таблица 3


Справочная таблица электрических параметров генераторов шума

Тип

Диапазон частот, Гц

Диапазон напряжений

Погрешность, %

Входное сопротивление, Ом

Г2-37

15-6,5·10ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1)

3-1·10ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1) мкВ

4

50, 60



ПРИЛОЖЕНИЕ 3. (Измененная редакция, Изм N 1).



Copyright © 2024