ГОСТ 13096-82
Группа У99
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР
ОБЪЕКТИВЫ
Методы измерения рабочего и заднего отрезков
Objective lenses. Methods for measuring the flange focal and back focus distances*
________________
* Наименование стандарта. Измененная редакция, Изм. N 1.
ОКП 44 45000000
Дата введения 1984-01-01
Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 29 марта 1982 г. N 1296 срок введения установлен с 01.01.84
ВЗАМЕН ГОСТ 13096-67
ПЕРЕИЗДАНИЕ. Сентябрь 1987 г.
ВНЕСЕНО Изменение N 1, утвержденное и введенное в действие с 01.07.91 Постановлением Госстандарта СССР от 16.03.90 N 447
Изменение N 1 внесено изготовителем базы данных по тексту ИУС N 6, 1990 год
Настоящий стандарт распространяется на фотографические, киносъемочные объективы, объективы оптико-электронных приборов и устанавливает методы измерения рабочего и заднего отрезков.
Стандарт не распространяется на объективы, рассчитанные для работы на конечном расстоянии.
Термины и определения по ГОСТ 7427-76 и ГОСТ 25205-82.
(Измененная редакция, Изм. N 1).
1. АППАРАТУРА
1. АППАРАТУРА
1.1. Схема установки, на которой проводят измерение рабочего и заднего отрезков объектива, приведена на черт.1.
1 - источник света; 2 - конденсор; 3 - светофильтр; 4 - матовое стекло; 5 - тест-объект; 6 - объектив коллиматора; 7 - опорный торец объективодержателя; 8 - испытуемый объектив; 9 - поворотный рычаг с продольными направляющими; 10 - поперечные направляющие; 11 - каретка, перемещаемая по поперечным направляющим; 12 - микрометрический механизм продольного перемещения; 13 - приемник изображения
Черт.1
(Измененная редакция, Изм. N 1).
1.2. Апертура конденсора должна быть не меньше апертуры объектива коллиматора.
1.3. Спектральная характеристика светофильтра должна соответствовать рабочей области спектра испытуемого объектива, указанной в нормативно-технической документации на объектив конкретного вида.
1.4. При визуальных измерениях следует использовать монохроматический светофильтр, максимум пропускания которого соответствует расчетной длине волны испытуемого объектива. Допускается использовать светофильтр полушириной 40 нм при точности воспроизведения расчетной длины волны ±20 нм.
1.5. Световой диаметр объектива коллиматора должен быть больше диаметра входного зрачка испытуемого объектива. Фокусное расстояние объектива коллиматора должно быть не менее чем в 5 раз больше фокусного расстояния испытуемого объектива.
1.6. Тест-объект и приемник изображения выбирают в соответствии с требованиями нормативно-технической документации на объектив конкретного вида. В качестве тест-объекта допускается использовать миру, точечную диафрагму, щель и т.п. При визуальных измерениях приемником служит глаз; при фотографических - фотоматериал; при измерении коэффициента передачи контраста или концентрации энергии - фотоэлектрический приемник.
Апертура объектива микроскопа должна быть больше апертуры испытуемого объектива.
Увеличение микроскопа должно быть не менее 150
.
1.7. Тест-объект устанавливают в фокальную плоскость объектива коллиматора.
Допустимую погрешность 
установки тест-объекта определяют по формуле
,
где 
- фокусное расстояние объектива коллиматора, мм;
- диаметр входного зрачка испытуемого объектива, мм;
- длина волны света, мм.
1.8. Механизм продольного перемещения каретки, несущей приемник изображения, должен быть снабжен микрометрическим отсчетным устройством с ценой деления не более 0,02 мм.
1.9. Поперечная направляющая должна быть параллельна опорному торцу объективодержателя. Допустимое отклонение от параллельности определяют по формуле
,
где 
- допустимое отклонение от параллельности (угол между опорным торцом объективодержателя и поперечными направляющими), мин;
- глубина резкости испытуемого объектива, мм;
- расстояние от оптической оси до крайней точки поля зрения испытуемого объектива, мм.
1.10. Плоскость наилучшего изображения выбирают в соответствии с требованиями, предъявляемыми к испытуемому объективу, и указывают в нормативно-технической документации на объектив конкретного вида.
При выборе плоскости наилучшей установки приемника изображения по центру поля объектива в схеме аппаратуры (см. черт.1) не требуется наличие поворотного рычага и поперечных направляющих.
1.11. В качестве измерительного прибора должны быть использованы микрометрические или индикаторные нутромеры и глубиномеры.
1.12. При проверке больших партий малогабаритных объективов, выпускаемых серийно, допускается использовать специальный шаблон (черт.2).
1 - опорный торец объективодержателя; 2 - шаблон; 3 - микроскоп; 4 - отсчетная шкала механизма продольного перемещения микроскопа
Черт.2
Поверхность 
имитирует опорный торец объектива, предназначенный для посадки объектива на камеру. Полированная поверхность 
- положение плоскости изображения эталонного образца испытуемой серии объективов. Поверхности и должны быть параллельны. Отклонение от параллельности этих поверхностей должно быть не более 2'. Размер 
равен номинальному значению рабочего отрезка с погрешностью, не превышающей 0,01 мм.
Примечание. Опорный торец объективодержателя, на который опирается испытуемый объектив, обращен в пространство предметов (черт.2а) и в пространство изображений (черт.2б).
2. ПОДГОТОВКА К ИЗМЕРЕНИЯМ
2.1. Испытуемый объектив закрепляют в объективодержателе. При этом первая линза испытуемого объектива должна быть обращена к объективу коллиматора.
2.2. В зависимости от габарита испытуемого объектива и наличия аппаратуры выбирают один из способов измерения рабочего и заднего отрезков по схемам, приведенным на черт.2-4.
1 - стеклянная пластинка; 2 - опорный торец объективодержателя; 3 - микроскоп; 4 - отсчетная шкала механизма продольного перемещения микроскопа; 5 - положение наилучшей плоскости изображения объектива; 
- размер рабочего отрезка
Черт.3
1 - опорный торец объективодержателя; 2 - стеклянная пластинка; 3 - глубиномер; 4 - нутромер; 5 - плоскость приемника изображения; 6 - испытуемый объектив
Черт.4
(Измененная редакция, Изм. N 1).
2.3. Тест-объект и приемник изображения следует выбирать в соответствии с требованиями п.1.6.
2.4. Подбирают средства измерения, обеспечивающие точность измерения.
2.5. У испытуемого объектива с помощью любого измерительного прибора определяют значение 
, равное расстоянию от плоскости опорного торца объектива до вершины его последней оптической поверхности.
3. ПРОВЕДЕНИЕ ИЗМЕРЕНИЙ
3.1. Проведение измерений по схеме, приведенной на черт.2.
3.1.1. Микроскоп фокусируют на поверхность шаблона (см. черт.2). По шкале продольного перемещения микроскопа снимают отсчет 
.
3.1.2. В объективодержатель устанавливают объектив и микроскоп фокусируют на резкое изображение тест-объекта, затем снимают отсчет 
.
3.1.3. При измерении заднего отрезка микроскоп фокусируют на вершину последней поверхности объектива и снимают отсчет 
.
(Измененная редакция, Изм. N 1).
3.2. Проведение измерений по схеме, приведенной на черт.3.
3.2.1. Микроскоп фокусируют на зеркальную поверхность стеклянной пластинки, прижатой к опорному торцу объективодержателя, на который опирается испытуемый объектив.
Снимают отсчет 
по шкале механизма продольного перемещения микроскопа.
В объективодержателе устанавливают объектив.
3.2.2. Микроскоп фокусируют на резкое изображение тест-объекта и снимают отсчет 
.
3.2.3. При измерении заднего отрезка микроскоп фокусируют на вершину последней оптической поверхности объектива и снимают отсчет 
.
(Измененная редакция, Изм. N 1).
3.3. Проведение измерений по схеме, приведенной на черт.4.
3.3.1. Находят плоскость наилучшей установки приемника изображения в соответствии с требованиями п.1.10.
3.3.2. Измеряют с помощью глубиномера или нутромера расстояние 
от опорного торца объективодержателя до плоскости приемника изображения (фотослой, приемная диафрагма фотоэлектрического приемника излучения и т.п.).
Примечания:
1. Глубиномер и нутромер (см. черт.4) применяют, когда положение плоскости наилучшего изображения определяют с фотографическим или фотоэлектрическим приемником изображения.
2. Глубиномер (см. черт.4) применяют при 
150 мм. Если 
150 мм, применяют нутромеры (см. черт.4б, г).
3. В случаях, когда нежелательно касание приемной диафрагмы наконечником измерительного инструмента, то измерение проводят до базовой площадки приемника изображения, расстояние от которой до приемной диафрагмы аттестовано.
3.4. При измерениях по пп.3.1-3.3 фокусировку микроскопа и снятие отсчета по шкале производят не менее 5 раз.
4. ОБРАБОТКА РЕЗУЛЬТАТОВ
4.1. Рабочий и задний отрезки, измеренные по схеме черт.2, вычисляют по формулам:
а) рабочий отрезок
.
Примечание. При удалении от объектива отсчеты до шкале должны возрастать;
б) задний отрезок
.
4.2. Рабочий и задний отрезки, измеренные по схеме черт.3, вычисляют по формулам:
а) рабочий отрезок
;
б) задний отрезок
.
4.3. Рабочий и задний отрезки, измеренные по схеме 4, вычисляют по формулам:
а) рабочий отрезок (черт. 4а, б, г)
,
б) рабочий отрезок (черт.4в)
,
где 
- константа объективодержателя установки, равная значению толщины кольца объективодержателя, мм, измеряемая с погрешностью, не превышающей 0,01 мм;
в) задний отрезок
,
где - расстояние от плоскости опорного торца до вершины последней линзы испытуемого объектива с учетом знака, мм, измеряемое с погрешностью, не превышающей 0,01 мм (для крупногабаритных объективов, 0,03 мм).
4.1-4.3. (Измененная редакция, Изм. N 1).
4.4. Результаты измерений и вычислений оформляют в виде таблиц по форме обязательного приложения 2.
4.5. Погрешность измерения определяют из погрешности определения линейных значений и погрешности при фокусировке на изображение.
4.5.1. Погрешность измерений по п.4.1а определяют по формуле
,
где 
- погрешность измерения рабочего отрезка, мм;
- погрешность изготовления шаблона, мм;
- средняя квадратическая погрешность фокусировки на поверхность шаблона, мм, определяемая по формуле
;
- среднее из пяти отсчетов;
- значение каждого отсчета;
- число измерений;
- средняя квадратическая погрешность фокусировки на изображение, определяемая аналогично 
;
- инструментальная ошибка отсчетного устройства микроскопа в действующем диапазоне измерения, указываемая в паспорте.
4.5.2. Погрешность измерений по п.4.1б определяют по формуле
,
где 
- погрешность измерения заднего отрезка;
- средняя квадратическая погрешность фокусировки на поверхность линзы объектива, определяемая аналогично (см. п.4.5.1).
(Измененная редакция, Изм. N 1).
4.5.3. Погрешность измерения по п.4.2 а определяют по формуле
,
где 
- средняя квадратическая погрешность фокусировки на поверхность стекла, определяемая аналогично (см. п.4.5.1);
- средняя квадратическая погрешность фокусировки на изображение, определяемая аналогично (см. п.4.5.1).
4.5.4. Погрешность измерений по п.4.2 б определяют по формуле
,
- погрешность измерений заднего отрезка;
- средняя квадратическая погрешность фокусировки на поверхность линзы объектива, определяемая аналогично (см. п.4.5.1).
(Измененная редакция, Изм. N 1).
4.5.5. Погрешность измерений по п.4.3а, б определяют по формуле
,
где 
- инструментальная погрешность средства измерения, мм.
4.5.6. Погрешность измерения по п.4.3в определяют по формуле
,
где 
- погрешность измерения расстояния , мм.
(Измененная редакция, Изм. N 1).
4.6. Определенное значение рабочего отрезка или заднего отрезка 
указывают в паспорте на испытуемый объектив.
В нормативно-технической документации на объектив конкретного вида указывают погрешность измерений: 
, 
.
(Измененная редакция, Изм. N 1).
ПРИЛОЖЕНИЕ 1. (Исключено, Изм. N 1).
ПРИЛОЖЕНИЕ 2 (обязательное). РЕЗУЛЬТАТЫ ИЗМЕРЕНИЙ И ВЫЧИСЛЕНИЙ РАБОЧЕГО И ЗАДНЕГО ОТРЕЗКОВ
ПРИЛОЖЕНИЕ 2
Обязательное
Измерения по схеме черт.2 настоящего стандарта
Отсчет | Среднее арифметическое значение | Средняя квадратическая погрешность |
|
|
|
|
|
| |
| |||||||||
| |||||||||
| |||||||||
Измерения по схеме черт.3 настоящего стандарта
Отсчет | Среднее арифметическое значение | Средняя квадратическая погрешность |
|
|
|
|
| |
| ||||||||
| ||||||||
| ||||||||
Измерения по схеме черт.4 настоящего стандарта
Отсчет |
|
|
|
|
| |
| ||||||
| ||||||
| ||||||
(Измененная редакция, Изм. N 1).